Microscopes électroniques à balayage (SEM)
Les microscopes électroniques à balayage (SEM) numérisent un échantillon avec un faisceau d’électrons focalisé et obtiennent des images contenant des informations sur la topographie et la composition des échantillons.
Les CSEM (SEM conventionnels avec une source d’électrons thermique) et FE-SEM (SEM à émission de champ avec une source d’électrons à émission de champ) de ZEISS offrent une imagerie haute résolution et un contraste de matériaux supérieur.
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