Sigma
Vos FE-SEM SIGMA ZEISS pour une imagerie de haute qualité et une microscopie analytique avancée
Description
Combinez la technologie SEM à émission de champ (FE-SEM) avec l’analyse.
Profitez de l’optique électronique Gemini éprouvée. Choisissez parmi une variété d’options de détecteurs : imagez les particules, les surfaces et les nanostructures en science des matériaux, étudiez les semi-conducteurs ou les dispositifs médicaux, les échantillons géologiques ou biologiques.
Gagnez du temps avec le workflow semi-automatisé en 4 étapes de Sigma : structurez vos routines d’imagerie et d’analyse et augmentez la productivité. Les utilisateurs de FE-SEM de toutes les disciplines dans les laboratoires de recherche et de l’industrie bénéficient désormais d’une résolution de 1,3 nm à 1 kV dans ZEISS Sigma 500 et d’une meilleure convivialité tout autour.
Points forts du produit:
* Détection flexible pour des images claires :
– Adaptez Sigma à vos besoins en utilisant les dernières technologies de détection et caractérisez tous vos échantillons.
– Sigma fournit d’excellentes images à faible kV dans toutes les conditions de vide. Bénéficiez d’une sensibilité améliorée, d’un rapport signal/bruit accru et d’une vitesse accrue.
– Bénéficiez des détecteurs C2D et VPSE de Sigma en mode pression variable : en travaillant à faible vide, vous pouvez vous attendre à des images nettes avec jusqu’à 85 % de contraste en plus.
* Automatisez et accélérez votre flux de travail : Un workflow en 4 étapes vous permet de contrôler toutes les fonctionnalités de votre Sigma. Bénéficiez d’une image rapide et gagnez du temps sur la formation, en particulier dans un environnement multi-utilisateur.
* Effectuer une microscopie analytique avancée : Combinez la microscopie électronique à balayage et l’analyse élémentaire : la géométrie EDS de pointe de Sigma augmente votre productivité analytique, en particulier sur les échantillons sensibles aux faisceaux.