Versa Xradia

Libérez de nouveaux degrés de polyvalence pour votre recherche industrielle avec les modèles de microscopes à rayons X 3D les plus avancés de la famille ZEISS Xradia Versa.

S’appuyant sur la meilleure résolution et le meilleur contraste du marché, les microscopes ZEISS Xradia Versa 610 & 620 repoussent les limites de votre imagerie non destructive à l’échelle sub-micronique.

Points forts du produit :

* Dépassez les limites de la micro et nano tomographie avec une plus haute résolution

– Microscopie non destructive à une échelle inférieure au micron d’échantillons intacts

– Résolution spatiale réelle de 500 nm avec une taille de voxel minimale réalisable de 40 nm

– Haute résolution sur une large gamme de types d’échantillons, de tailles et de distances de travail

– Flux plus élevé et numérisations plus rapides sans compromettre la résolution

* Nouveaux degrés de liberté

– Optimisez l’absorption et le contraste de phase pour obtenir une caractérisation sans précédent de vos matériaux et de leurs propriétés.

– Déverrouillez les informations cristallographiques 3D avec la tomographie à contraste de diffraction.

– Améliorez la vitesse de numérisation et la précision d’échantillons volumineux ou irréguliers grâce à des techniques d’acquisition avancées.

– Appliquez des algorithmes d’apprentissage machine pour faciliter le post-traitement et la segmentation de vos échantillons.

Première solution In Situ / 4D 

La série ZEISS Xradia 600 peut caractériser de manière non destructive la microstructure 3D de matériaux sous perturbations contrôlées (in situ) et observer l’évolution des structures dans le temps (4D).

ZEISS Xradia série 600 Versa introduit une technologie révolutionnaire de source de rayons X haute puissance (25 W) capable de fournir un flux de rayons X nettement supérieur à celui de ses prédécesseurs.